元器件耐久性试验

检测项目

1.高温耐久试验：高温贮存试验，高温工作寿命试验。

2.低温耐久试验：低温贮存试验，低温工作试验。

3.温度循环试验：快速温度变化试验，两箱法温度冲击试验。

4.湿热耐久试验：恒定湿热试验，交变湿热试验。

5.振动耐久试验：正弦振动耐久试验，随机振动耐久试验。

6.机械冲击试验：半正弦波冲击试验，后峰锯齿波冲击试验。

7.盐雾腐蚀试验：中性盐雾试验，醋酸盐雾试验。

8.机械寿命试验：插拔耐久性试验，旋转寿命试验，按键寿命试验。

9.电负荷耐久试验：高温反偏试验，高温栅偏试验，功率循环试验。

10.综合环境应力试验：温度、湿度、振动三综合试验，高加速寿命试验。

检测范围

电阻器、电容器、电感器、二极管、三极管、集成电路、连接器、继电器、开关、传感器、晶体振荡器、保险丝、滤波器、变压器、光电器件、微机电系统、电路板

检测设备

1.高低温试验箱：用于测试元器件在极端温度条件下的性能稳定性与材料老化情况；具备精确的温控系统和均匀的温度场。

2.温度循环试验箱：用于进行快速温度变化测试；可实现高低温间的快速转换，模拟温度剧烈波动环境。

3.恒温恒湿试验箱：用于进行湿热耐久性试验；能够精确控制箱内的温度与相对湿度，模拟潮湿环境。

4.振动试验台：用于模拟元器件在运输或使用过程中受到的振动应力；可执行正弦与随机振动模式。

5.冲击试验台：用于测试元器件承受机械冲击的能力；可编程控制冲击波形、峰值加速度和持续时间。

6.盐雾试验箱：用于测试元器件及其金属部件的耐腐蚀性能；可创造并维持稳定的盐雾腐蚀环境。

7.寿命试验机：用于对开关、连接器等器件进行重复性的机械动作测试；可设定动作频率与次数并监测接触电阻变化。

8.高温反偏试验系统：专门用于半导体器件在高温环境下施加反向偏压的耐久性测试；集成高精度电源与高温环境舱。

9.综合环境试验箱：用于同时施加两种或多种环境应力；常见为温度-湿度-振动综合试验箱。

10.三综合试验箱：集温度、湿度、振动三种应力于一体；用于进行高度加速的综合性耐久与可靠性测试。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.